C 5 по 9 августа 2019 года в Новосибирском государственном университете проходила Третья российская конференция «Графен: молекула и 2D-кристалл».

Научные направления конференции:

- Химический и CVD синтезы графена и родственных материалов.

- Химическая модификация графена и гибридные 2D материалы.

- Топологические изоляторы и полуметаллы Вейля.

- Диагностика графена и других 2D материалов.

- Теория, строение и моделирование свойств графена и родственных низкоразмерных материалов.

- Графеновая электроника.

- Механические и электромеханические свойства и приложения.

На конференции с развернутым докладом «Исследование углеродных материалов методами сканирующей зондовой микроскопии и спектроскопии высокого пространственного разрешения» выступил Почетный президент Группы компаний «НТ-МДТ Спектрум Инструментс», президент Нанотехнологического общества России д.т.н. В.А. Быков.

В докладе представлены новые разработки приборов и методов исследования группы компаний «НТ-МДТ Спектрум Инструментс».

В настоящее время сканирующая зондовая микроскопия стала мощным методом исследования материалов с пространственным разрешением вплоть до атомного. Появилась возможность исследования топографии, электрических, магнитных, пьезоэлектрических, механических свойств материалов, изучения адсорбционных поверхностных структур, исследования теплопроводности, жесткости материалов в различных условиях: сверхвысокого вакуума, контролируемой газовой атмосферы, в жидкостных ячейках.

Мощное развитие получила ближнепольная оптическая микроскопия, в том числе безаппертурная¹. Созданы приборы, позволяющие регистрировать комбинационное рассеяние света, люминесцентные свойства материалов в сочетании с методами атомно-силовой микроскопии. Последнее особенно интересно при исследовании углеродных материалов – графенов, нанотрубок, углеродных кластеров.

В докладе иллюстрируются возможности приборов и новых методов², включая возможности сканирования со скоростями на порядок, превышающими скорости сканирования моделей приборов даже пятилетней давности³. Контроллеры и современное программное обеспечение с элементами искусственного интеллекта⁴ значительно снижают требования к специалистам, касающиеся освоения тонкостей методов, позволяя сосредоточиться на сущности предмета исследования.

¹ https://www.ntmdt-si.ru/products/afm-raman-nano-ir-systems/ntegra-nano-ir

² https://www.ntmdt-si.ru/products/features/hybrid-mode

³ https://www.ntmdt-si.ru/products/features/rapidscan

⁴ https://www.ntmdt-si.ru/products/features/intelligent-scantronic-software

На отдельном стенде был также представлен прибор ИНТЕГРА Спектра II.

Презентация доклада «Исследование углеродных материалов методами сканирующей зондовой микроскопии и спектроскопии высокого пространственного разрешения»